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丁喜冬

职  称: 高级工程师
学  位: 博士
毕业学校: 中山大学
联系电话: 020-84113672-804
电子邮件: dingxd@mail.sysu.edu.cn

主要经历: 

      现任中山大学物理学院高级工程师。本科、硕士、博士均毕业于中山大学;曾多年从事电子产品的研发。2002年晋升为高级工程师、并获硕士研究生导师资格。分别于2008年、2010年两次到香港中文大学进行学术访问。曾主持广东省科技计划项目5项、广州市科技计划项目2项,作为核心成员参加国家基金委的仪器专项等项目。近年主要研究方向或兴趣包括采用DSP的嵌入式测控技术、纳米表征仪器技术及其应用等。 

     

学科方向: 

[1] 微电子学与固体电子学;

[2] 集成电路工程;

[3] 凝聚态物理。

以上方向每年招收硕士研究生,同时欢迎本科生提前进入实验室学习。

注:方向[1]和方向[2]的研究生由电子与信息工程学院管理,本人是以上两个专业的硕士研究生导师,直接报考相应专业的硕士研究生可加入实验室。

    方向[3]的研究生由物理学院管理,对以上方向感兴趣的同学可报考物理学院合作导师林国淙副教授的硕士研究生加入实验室。

技术专长: 

[1] 微电子学与固体电子学:采用DSP的嵌入式系统设计、精密仪器与测控技术。

[2] 集成电路工程:DSP 技术及应用、电子技术应用产品开发。

[3] 凝聚态物理:纳米表征仪器技术及其应用(扫描探针显微术)

荣誉获奖: 

    技术鉴定成果:

[1] 成果名称:损耗型探针扫描显微镜;

   主持单位:广东省科技厅;鉴定日期:2005.1.20.

   完成人员:丁喜冬,熊小敏,张进修,杨森,冯天恩,杜贤算

[2] 成果名称:凝聚态物质的切变波共振吸收谱仪系列;

   主持单位:国家自然科学基金委;鉴定日期:2001.12.20.

   完成人员:张进修, 熊小敏,丁喜冬,林国淙,黄元士

 

     近年主要发明专利清单:

[1] 丁喜冬, 蔡光亚, 陈弟虎, 罗永震, 郭建平, 张曰理. 一种基于三维实体模型的三角形表面网格生成方法. 中国发明专利. 申请号: 201510555668.7; 申请日: 2015.9.1.

[2] 杜晓丹,丁喜冬,吴文熙,蔡如海,李军,庞志勇,陈弟虎. 一种基于视频图像的多技术融合人体及其位置检测方法. 中国发明专利. 申请号: 201510603978.1; 申请日: 2015.9.22.

[3] 丁喜冬, 冯昊轩, 陈弟虎, 王自鑫, 郭建平. 一种模拟数字混合结构的锁相放大器及其锁相放大方法. 中国发明专利. 申请号: 201410245054.4; 申请日: 2014.6.4.

[4] 刘东子, 丁喜冬, 赵亮兵, 陈弟虎. 一种磁力显微镜及其测量方法. 中国发明专利. 公开号:CN 103336151A; 公开日:2013.11.6.

[5] 丁喜冬,李超,林国淙. 一种开尔文探针力显微镜的间歇接触式测量方法. 中国发明专利. 公开号: CN 102507988A; 公开日:2012.06.20.

[6] 丁喜冬. 一种静电力显微镜的间歇接触式测量方法. 中国发明专利. 公开号: CN 102507986A; 公开日: 2012.06.20.

[7] 丁喜冬,林国淙,张进修,梁仲文,李超. 一种开尔文探针力显微镜及其测量方法. 中国发明专利. 公开号:CN101788572A; 公开日:2010.7.28.

[8] 丁喜冬,许建斌,张进修. 一种静电力显微镜及其测量方法. 中国发明专利. 授权号:ZL 200910037448.X; 授权日:2010.12.29;

[9] 丁喜冬,张进修,曾荣耀. 一种振动样品的扫描隧道显微镜及其测量方法. 中国发明专利. 授权号:ZL 2008101984 78.4; 授权日::2011.3.2.

[10] 丁喜冬,张进修,熊小敏. 一种可测量原子间作用力的扫描隧道显微镜及其测量方法. 中国发明专利. 授权号:ZL 200710031663.9; 授权日:2010.12.15;

[11] 丁喜冬,熊小敏,张进修. 介电损耗扫描探针显微镜及其测量方法. 中国发明专利. 授权号:ZL 200410077616.5; 授权日:2007.3.7.

[12] 张进修,丁喜冬,熊小敏. 隧穿损耗探针扫描显微镜及其测量方法. 中国发明专利. 授权号:ZL 200410077617.X; 授权日:2007.3.7.

代表论著: 

[1] D. Z. Liu, K. X. Mo, X. D. Ding*, L. B. Zhao, G. C. Lin, Y. L. Zhang, and D. H. Chen*. Secondary resonance magnetic force microscopy using an external magnetic field for characterization of magnetic thin films. Appl. Phys. Lett., 2015, 107(10): 1033110. 

[2] D. Z. Liu, X. D. Ding*, H. L. Xu, G. C. Lin, and D. H. Chen. Improving lateral resolution of ambient electrostatic force microscopy by intermittent contact method. Integrated Ferroelectrics, 2015.8.

[3] 何万贤, 梁仲文, 丁喜冬*. 多频率开尔文探针力显微镜的设计. 光电工程. 2015.11, 42(11): 31-36. 

[4] C. Li, X. D. Ding*, C. X. Deng, D. H. Bao. Observing the resistive switching of MgZnO thin film via

 conducting atomic force microscopy. Journal of Nanosci. and Nanotechnol., 2013, 13(2):766-770.

[5] C. Li, X. D. Ding*, and G. C. Lin. Study on multi- frequency method for electrostatic force microscopy

 in air. Integrated Ferroelectrics, 2013, 145(1):59-67

[6] X. D. Ding*, C. Li, Z. W. Liang, and G. C. Lin. Resonant multi-frequency method for

 Kelvin probe force microscopy in air. Meas. Sci. Technol., 2012, 23:105402.

[7] X. D. Ding, Y. Z. Wang, X. M. Xiong, X. S. Du, and J. X. Zhang*. Measurement of shear strength

for HOPG with scanning tunneling microscopy by thermal excitation method.

Ultramicroscopy, 2012, 115(1):1-6 /j.ultramic.2011.01.018

[8] X. D. Ding*, J. An, J. B. Xu*, C. Li, and R. Y. Zeng. Improving lateral resolution of electrostatic force

microscopy by multi-frequency method under ambient conditions. Appl. Phys. Lett., 2009, 94(22): 223109.

[9] X. D. Ding, G. Fu, X. M. Xiong, and J. X. Zhang*. Characterization Method of Polycrystalline Materials

Using conductive Atomic Force Microscopy. Chin. Phys. Lett., 2008, 25(10):3597-3600.

[10] Y. Z. Wang, X. D. Ding, X. M. Xiong, and J. X. Zhang*. Comparative Analysis of Internal Friction and

Natural Frequency Measured by Free Decay and Forced Vibration. Rev. Sci. Instrum., 2007, 78:11.